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發明專利實體審查基準(二)

發明專利實體審查基準(二)

  • 統一編號GPN:1009501037
  • 出版日期:2006/04
  • 作/編/譯者:張仁平
  • 語言:中文
  • 頁數:224
  • 裝訂:平裝
  • ISBN/ISSN:9860051623
  • 出版單位:經濟部智慧財產局
  • 開數: 其他:25開
  • 版次:初版
  • 價格:定價$450

書籍介紹

為配合修正之專利法及專利法施行細則於二○○四年七月一日施行,智慧財產局大幅修正專利審查基準,尤其是新增加的國內優先權及變動較大的單一性及補充修正、更正等部分,影響申請及審查之實務至鉅,因此對於修正後之專利審查基準相關規定,本書進行深入瞭解。

分類

其他詳細資訊

  • 英文題名:Substantive Examination Guidelines for Invention Patent (2)
  • 適用對象:成人(學術性)
  • 關鍵詞:優先權,案例,期間延長
  • 附件:無附件
  • 頁/張/片數:224

授權資訊

  • 著作財產權管理機關或擁有者:經濟部智慧財產局
  • 取得授權資訊:聯絡人:鄭雅寧聯絡電話:2376-6135聯絡地址:台北市辛亥路2段185號29樓