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發明專利實體審查基準(一)-國際法規與案例彙編

發明專利實體審查基準(一)-國際法規與案例彙編

  • 統一編號GPN:1009900026
  • 出版日期:2010/03
  • 作/編/譯者:張仁平
  • 語言:中文
  • 頁數:328
  • 裝訂:平裝

書籍介紹

本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例,其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容,列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範,包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約(EPC)、美國、實質專利法條約(SPLT)草案、與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)與專利合作條約(PCT)等,以供比較參考,並於各章節編列相關案例,詳加解說,有助於瞭解專利審查基準之相關規範。 ※相關法令已更新,本書非最新內容※

分類

其他詳細資訊

  • 英文題名:Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1)-Compilation of International Regulations and Case Studies
  • 出版品網址(線上版或試閱版):連結
  • 適用對象:成人(學術性)
  • 關鍵詞:專利、審查基準
  • 附件:無附件
  • 頁/張/片數:328

授權資訊

  • 著作財產權管理機關或擁有者:經濟部智慧財產局
  • 取得授權資訊:顏裕家,電話:02-23766148