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發明專利實體審查基準

發明專利實體審查基準

  • 統一編號GPN:1010300213
  • 出版日期:2014/02
  • 作/編/譯者:張仁平
  • 語言:中文
  • 頁數:392
  • 裝訂:平裝

書籍介紹

本教材乃依序說明專利審查基準總則部分之國際相關法規、審查基準及案例,其內容主要係依據經濟部智慧財產局二○一三年一月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第十一章之內容,於各章中首先列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範,包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約(EPC)、美國、實質專利法條約(SPLT)草案、與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPS)與專利合作條約(PCT)等,以供比較參考,其次說明審查基準之重點,最後輔以案例說明,有助於瞭解專利審查基準之相關規範。(相關法令已更新,本書非最新內容)

分類

其他詳細資訊

  • 英文題名:Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent
  • 適用對象:成人(休閒娛樂)
  • 關鍵詞:專利審查基準、說明書、申請專利範圍、摘要、圖式、專利要件、新穎性、進步性、單一性、優先權、修正、更正、誤譯訂正、最後通知、分割、改請、專利權期間延長
  • 附件:無附件
  • 頁/張/片數:392

授權資訊

  • 著作財產權管理機關或擁有者:經濟部智慧財產局
  • 取得授權資訊:聯絡處室:國企組 姓名:顏裕家 電話:02-2376-6148 地址:台北市辛亥路二段185號3樓