書籍介紹
探討是否可結合氣膠微粒質量分析儀及微粒電移動度粒徑掃描分析儀快速測量奈米微粒之粒徑及質量濃度。計畫確認APM的質量測量準確度，建議採用”固定轉速(改變電壓)”的操作方法可更有效率地測量微粒質量，也以SMPS與APM測量不同形貌多徑分佈銀微粒的質量濃度分佈，並與重量法之MOUDI的測量結果做比對，初步認為可行但必須釐清並修正可能影響因素。
分類
其他詳細資訊
- 英文題名：Evaluation of Control and Protection Technique of Specific Nanoparticles
- 適用對象：成人(學術性)
- 關鍵詞：氣膠微粒質量分析儀，奈米微粒，有效密度，微粒形貌，氣動直徑
- 附件：無附件
- 頁/張/片數：90
授權資訊
- 著作財產權管理機關或擁有者：勞動部勞動及職業安全衛生研究所
- 取得授權資訊：聯絡單位：勞動部勞動及職業安全衛生研究所勞工安全衛生展示館
姓名：吳幸娟
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