書籍介紹
計畫已於實驗室，透過測量高溫爐出口端銀微粒的重量濃度與有效密度，比較SMPS-APM與PENS的測量結果。計畫也已前往奈米物質作業場所進行空氣中微粒的數目濃度、粒徑分布、肺泡區沉積表面積濃度即時監測，輔以重量濃度、型貌與元素成分測定，評估作業場所中的奈米微粒的逸散與暴露狀況，測定的作業場所包含奈米碳纖維的合成工廠、奈米微粒實驗室與科技廠。
研究發現作業場所特定作業時會有短時間奈米微粒逸散，一般狀況下奈米微粒逸散都有適當控制措施，而SMPS-APM仍需適當改進，才能應用於作業環境現場奈米微粒重量濃度之測定。
分類
其他詳細資訊
- 適用對象：成人(學術性)
- 關鍵詞：奈米微粒，奈米微粒個人採樣器，微粒質量分析儀，重量濃度
- 附件：無附件
- 頁/張/片數：133
授權資訊
- 著作財產權管理機關或擁有者：勞動部勞動及職業安全衛生研究所
- 取得授權資訊：聯絡單位：勞動部勞動及職業安全衛生研究所勞工安全衛生展示館
姓名：吳幸娟
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