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發明專利實體審查基準(二)(增修版)

發明專利實體審查基準(二)(增修版)

  • 統一編號GPN:1009600018
  • 出版日期:2007/02
  • 作/編/譯者:張仁平
  • 語言:中文
  • 頁數:400
  • 裝訂:平裝
書籍介紹

為配合修正之專利法及專利法施行細則於二○○四年七月一日施行,智慧財產局大幅修正專利審查基準,尤其是新增加的國內優先權及變動較大的單一性及補充修正、更正等部分,影響申請及審查之實務至鉅,因此對於修正後之專利審查基準相關規定,本書進行深入瞭解 ※相關法令已更新,本書非最新內容※

分類
  • 書籍分類 :財金產業
  • 出版品分類:圖書
  • 主題分類: 法務
  • 施政分類: 法務
其他詳細資訊
  • 英文題名:Substantive Examination Guidelines for Invention Patent??
  • 適用對象:成人(學術性)
  • 關鍵詞:發明.專利.實體審查基準
  • 附件:無附件
  • 頁/張/片數:400
授權資訊
  • 著作財產權管理機關或擁有者:經濟部智慧財產局
  • 取得授權資訊:顏裕家,電話:02-23766148